ケツト科学研究所 デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

商品情報
 
※校正証明書は付属していません。(別途料金が必要となります)

《仕様》
●測定方式：電磁誘導/渦電流式兼用
●測定対象：磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
●測定範囲：電磁誘導式/0〜2500μmまたは99.0mils、渦電流式/0〜1200μmまたは47.0mils
●測定精度：50μm未満/±1μm、50μm以上1000μm未満/±2%、1000μm以上/±3%
●分解能：100μm未満/0.1μm、100μm以上/1μm
●適合規格：電磁誘導式/JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376、渦電流式/JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501/ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM D 7091-5、ASTM E 376
●プローブ：一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)
●付加機能：各種機能16種
●寸法・質量：75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34Kg
《特長》
●磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。
●電磁膜厚計LE-373と渦電流膜厚計LH-373の両機能を備え、多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。
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